۱۰,۰۰۰ تومان

۰ از ۵
از میانگین ۰ نظر دهنده

Modeling of Hot Carrier Induced Substrate Current and Degradation in Triple Gate Bulk FinFETs

هیچ فروشگاهی با فیلترهای منتخب شما وجود ندارد.
پیشنهاد می‌کنیم فیلترها را تغییر دهید
تعلیم
بوشهر بدون امتیاز
۱ ماه گزارش

Modeling of Hot Carrier Induced Substrate Current and Degrad...

 گزارش
۱۰,۰۰۰
بروزشده در ۳ ساعت پیش
مشاهده پیشنهاد
بروزشده در ۳ ساعت پیش

پیشنهاد ویژه فروشندگان

نظرات کاربران
هیچ نظری ثبت نشده است.

کالاهای مشابه

جدیدترین‌های محتوای آموزشی کریر